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激光橢圓偏振儀 庫號：M351615
簡要描述：激光橢圓偏振儀 庫號：M351615實驗內容:●測量薄膜厚度。●測量介質折射率。●驗證馬呂斯定律。●觀察了解光的偏振現(xiàn)象。
產品型號： ZXWJZ-II
所屬分類：儀
更新時間：2025-02-08
廠商性質：生產廠家
詳情介紹
激光橢圓偏振儀 庫號：M351615激光橢圓偏振儀 庫號：M351615
實驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀察了解光的偏振現(xiàn)象。
儀器特點:
●以分光計為平臺，測量薄膜厚度。
●利用軟件進行數(shù)據(jù)處理。
設備成套性:
●半導體激光器、數(shù)字檢流計、光電探頭、
待測樣品、起偏器、檢偏器、分光計
(選配)等。
主要技術指標:
測量透明薄膜厚度范圍0 - 300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、檢偏器、1/4波片刻度范圍0* -360°，
游標讀數(shù)0.10。
測量精度: +2nm。
入射角ψ1=70° ，K9玻璃折射率n=1.515。
消光系數(shù): 0,空氣折射率1。
●半導體激光器波長λ = 635nm。
實驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀察了解光的偏振現(xiàn)象。實驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀察了解光的偏振現(xiàn)象。實驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀察了解光的偏振現(xiàn)象。
實驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀察了解光的偏振現(xiàn)象。實驗內容:
●測量薄膜厚度。
●測量介質折射率。
●驗證馬呂斯定律。
●觀察了解光的偏振現(xiàn)象。
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